硕士学历，2008年加入赛默飞，从事离子色谱工作近14年，熟悉半导体、制药、环境、食品等领域离子色谱应用方案，参与多项离子色谱标准制定，先后发表数十篇离子色谱文章，具有丰富了离子色谱经验。
 

主要负责莱伯泰科ICP-MS的技术支持工作，在痕量杂质元素检测方面具有丰富的理论和实践经验。
 

研究方向：GaN晶体管的器件物理及可靠性研究，主要研究内容内容为GaN器件电流坍塌及阈值不稳定性等物理机理研究。

华中科技大学武汉光电国家研究中心教授，博士生导师。2011年5月毕业于美国亚利桑那州立大学，获博士学位，主要从事半导体纳米材料原子分辨率微结构及纳米尺度电学性能的结合研究，重点关注材料的特定原子结构及相应电势、电场、电荷分布对宏观物理性质的影响，取得了一系列有影响力的研究成果。到目前为止累积发表SCI 收录论文116篇，发表第一作者或通讯作者论文38篇(IF≥10的20篇)，包括Advanced Materials(工作被Nature Physics 杂志选为研究亮点，并评价为结构-性能相关研究的典范)、Nano Letters、Nature Communications、Advance Science、Advanced Functional Materials、Science Bulletin、ACS Nano、Nano Energy、Chemical Engineering Journal、Small等，论文总引用4500余次，H因子为31，多次受邀在国际国内电子显微学年会上做邀请报告，目前担任湖北省电子显微镜学会理事。