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主要负责莱伯泰科ICP-MS的技术支持工作，在痕量杂质元素检测方面具有丰富的理论和实践经验。

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莱伯泰科ICP-MS在半导体硅材料检测中的应用
时间：2023年05月24日 09:52 领域：材料品牌：莱伯泰科硅片是半导体制造业的基础材料，硅片表面极其少量的无机杂质元素污染以及处理硅片过程中所使用化学品无机杂质元素含量不合格，都可能导致制造的器件的功能丧失或者可靠性变差。
莱伯泰科 ICP-MS提供优异的检出限、背景等效浓度和长期稳定性，为半导体行业硅片表面杂质元素含量检测提供了卓越的性能。

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