从智能手机到高性能计算,从人工智能到自动驾驶——半导体芯片作为数字时代的“心脏”,其性能的释放与系统的可靠性,最终取决于封装与测试这一关键环节。
在此背景下,先进封测技术已成为延续摩尔定律、实现系统集成创新的核心路径。无论是晶圆级封装、三维异构集成中的微凸点与硅通孔技术,还是面向高频、高功率场景的封装热管理与可靠性验证;无论是精密的缺陷检测,还是复杂的电性能测试——“精准互连”与“全面验证”,即是“定义”芯片的终极性能。正如半导体产业向高性能、低功耗、高集成度方向迈进,封测技术的精度与效率,直接决定了芯片能否从设计蓝图走向实际应用,并深刻影响着终端产品的竞争力。
基于此,化工仪器网特举办 “半导体封测技术及应用线上研讨会”。本次会议将聚焦半导体封测领域的前沿热点与工程挑战,深度探讨从先进封装工艺(如FC、WLP、3D IC、SiP)的材料与设备挑战,到测试方案(包括良品率分析、失效定位、可靠性评估)的技术突破;从异构集成的设计协同,到面向5G、汽车电子、高性能计算等应用场景的封测解决方案。会议旨在搭建一个连接连接学术界、仪器厂商与产业端的专业平台,共同剖析封测环节如何为芯片赋能,揭示“小封装”背后的“大智慧”。