当前位置:化工仪器网>网络课堂>全部领域>材料

莱伯泰科ICP-MS在半导体硅材料检测中的应用

发布时间: 2023年5月24日 9:52 主讲老师: 陈磊 所属品牌: 莱伯泰科
分享 用手机看网课

课程简介 讲师介绍 课程提示 同品牌课程 同主题课程>

课程简介
硅片是半导体制造业的基础材料,硅片表面极其少量的无机杂质元素污染以及处理硅片过程中所使用化学品无机杂质元素含量不合格,都可能导致制造的器件的功能丧失或者可靠性变差。莱伯泰科 ICP-MS提供优异的检出限、背景等效浓度和长期稳定性,为半导体行业硅片表面杂质元素含量检测提供了卓越的性能。
讲师介绍(排名不分先后)
课程提示
一、报名须知
  • 请认真填写预约报名信息,您的手机号即为进入直播间的凭证。
  • 手机和电脑端均可报名,您提交后,会有专人审核。
  • 审核通过者,直播开始前将收到开课通知短信。
二、如何观看直播和回放视频
  • 直播开始后,通过化工仪器网课程页或点击通知短信的链接,输入报名手机号验证即可观看。
  • 观看直播,可与行业专家实时在线问答交流。课程均支持无限次回放(特殊情况除外)。
  • 扫码下载“仪器优选APP",快捷查看回放视频以及同系列课程,免费发布询价、随时随地选仪器找厂商。
  • 如无法正常观看或有其他疑问,请联系本站客服,帮您解决!
"

扫码下载 "仪器优选APP"安卓用户抢先体验

仪器用户采购寻源必备工具
同品牌课程
更多品牌课程+

我要采购
我的课程
咨询客服
咨询热线
400-875-1717

周一至周五 8:30-17:30

点我咨询
讲师入驻 返回顶部