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布鲁克纳米表面量测技术及在半导体先进封装中的解决方案

发布时间：2026年09月20日 09:36

主讲老师：黄鹤

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第三代半导体功率器件制造与检测若干关键技术

发布时间：2026年07月27日 10:18

主讲老师：黄火林

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效率与质量的双重革命：徕卡精研一体机与三离子束切割技术在半导体高端制样中的应用

发布时间：2026年06月17日 16:28

主讲老师：董超逸

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宽禁带半导体原子尺度制造的机遇和挑战

发布时间：2022年10月25日 09:07

主讲老师：徐宗伟

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面向半导体芯片制造的超精密检测技术

发布时间：2022年10月25日 08:36

主讲老师：杨树明

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半导体芯片检测技术瓶颈及发展趋势

发布时间：2022年06月20日 14:04

主讲老师：杨树明