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智能镀层分析如何保证质量、提高效率

课程时间：2024年3月21日 14:00-14:57 主讲老师：董松林所属品牌：日立 进入商铺

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课程简介

　　快速回顾一下，日立在镀层厚度测量市场具有长达45年的成功的应用历史，今天在市场上旺销的 FT110A, FT160 和 X-Strata920 分析仪器回顾起来均发展逾10年以上，并伴随一路的创新和改善，遍观目前市场上存在的测厚仪产品，普遍设计于数年甚至数十年前。市场期待着一款符合时代潮流，满足客户最新需求的测厚仪。FT 230应运而生。

　　先来看看客户需要什么？他们想要速度，这是可以理解的，因为他们始终处于增长的压力之下、在更少时间里测量更多的样品，且更多时候要求在人手较少的情况下完成。无论是满足100%检测，或加强产品线质量控制减少浪费降低成本，对我们来说的目标是一致的——即样品进出仪器的时间越快越好，FT 230 被设计来缩短时间。像自动聚焦，广域相机这些功能都可以让您更快的找到测试位置并做好准备。但我们更进一步的想“是否能让客户略过所有的步骤”，这是引入一项新的超卓功能的灵感来源，FT 230予以实现。

　　他们想要仪器易于使用，我们理解生产工厂人员变动较大，频繁的新员工培训需要教会他们使用XRF仪器，并按照SOP的指引来处理不同的测试部件，有时他们会要求厂家提供这样的培训，更多时候是在内部进行，因此希望仪器简单易用。针对于此，我们重新设计了软件的测试界面，市场上的传统测厚仪通常只有1/3甚至1/4的屏幕用来显示样品图象其余部分则用来放置控制功能及状态、统计等。这可能会把部分客户搞晕，实际上，有些功能是客户日常用不到的。像我们刚才讨论到的测量设定就是XRF测量中最为复杂且最花费时间的部分。我们转变了软件的屏幕分布，这看起来非常不错。

　　最后，他们想要更好的连通性，这有几个不同的层面，最简单的是数据的处理。FC Connect可以生成供内部使用的或可以共享给客户的报告。也可以控制自动输出或手动输出结果并将其发往任何你指定的地方。可以是本地数据硬盘、网址或质量管理系统、制造执行系统或 ERP ，一些客户正在将他们的 XRF 测试设定为联机系统，我们的设计团队将与他们一起，在需要将仪器设定为QC自动检测时协助定义仪器的命令输入和数据处理的结果输出。

　　还有······等等，让我们来为您一一介绍。

讲师介绍(排名不分先后)

: 董松林

日立分析仪器（上海）有限公司高级应用工程师

曾先后于牛津仪器工业分析部，日立分析仪器(上海)有限公司长期从事X射线荧光分析仪器，XRF镀层测厚仪器的应用技术支持工作。

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