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XRF镀层分析助力100%检测

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开播时间： 2022年7月19日 14:00 主讲老师：董松林所属品牌：日立

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　　实现 100% 检测是日常电镀操作重要但困难的环节。它需要手动分析、做出决策，并完成复杂的测量设置。事实上，72% 的 XRF(X 射线荧光)测试时间浪费在设置过程中。

　　在本次网络研讨会中，您将了解如何通过 XRF 镀层测厚仪获得更多零件分析，同时减少操作员的工作量。日立分析仪器将重点介绍您可以在操作中使用的高级功能，包括仪器视觉、广域相机、自动对焦等，这些功能将有助于改进您的 XRF 程序。此外，您还可以了解为工业 4.0 设计的连接功能，从而为将来做好准备。

讲师介绍(排名不分先后)

: 董松林

日立分析仪器（上海）有限公司高级应用工程师

曾先后于牛津仪器工业分析部，日立分析仪器(上海)有限公司长期从事X射线荧光分析仪器，XRF镀层测厚仪器的应用技术支持工作。

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